[发明专利]基于二级无缝衔接的薄膜褶皱检测设备在审

专利信息
申请号: 202011115306.3 申请日: 2020-10-19
公开(公告)号: CN112093568A 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 朱凯燏 申请(专利权)人: 诸暨市澳速机械设计工作室
主分类号: B65H43/04 分类号: B65H43/04;B65H16/06
代理公司: 惠州市知畔知识产权代理事务所(普通合伙) 44659 代理人: 翁晓婵
地址: 311800 浙江省绍兴市诸暨市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及基于二级无缝衔接的薄膜褶皱检测设备,包括:支撑架、放卷滚筒及两组褶皱检测装置,放卷滚筒转动设置在支撑架上,两组褶皱检测装置分别设置在支撑架上,且两组褶皱检测装置沿塑料薄膜放卷移动的方向依次排列;褶皱检测装置包括:自由转筒、支撑杆、固定连杆以及若干个褶皱检测组件,自由转筒转动设置在支撑架上,支撑杆及固定连杆均设置在支撑架上。本发明公开的基于二级无缝衔接的薄膜褶皱检测设备,有效避免薄膜褶皱的漏检,且能精确检测出薄膜褶皱的位置并根据不同的褶皱位置给出相应的警报提示,确保工作人员快速锁定褶皱的位置;而且可同时检测出多个薄膜褶皱并分别给出相应的警报提示,进一步避免漏检的情形。
搜索关键词: 基于 二级 无缝 衔接 薄膜 褶皱 检测 设备
【主权项】:
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