[发明专利]一种可自动调整测量角度的防尘半导体测温仪装置在审

专利信息
申请号: 202011109556.6 申请日: 2020-10-16
公开(公告)号: CN112179509A 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 黄昌禾 申请(专利权)人: 金华含朴光学仪器有限公司
主分类号: G01K1/14 分类号: G01K1/14
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 321000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及半导体相关领域,公开了一种可自动调整测量角度的防尘半导体测温仪装置,包括枪体,枪体下端面固定连接有握把,枪体内设有开口向右的镜头腔,镜头腔左端壁连通设有转向齿轮腔,枪体内设有位于转向齿轮腔后侧的动力传输腔,动力传输腔左端壁连通设有位于转向齿轮腔左侧的斜齿轮腔,通过平衡块的滑动,带动磁铁块滑动,利用磁铁的特殊性质,控制移动轴往复运动,从而控制镜头的上下转动,实现了针对不同角度镜头的自动调整,达到了提高测量精度的需求,同时,通过齿轮与同步带的传动,控制滚筒的转动,实现了对镜头的遮尘保护,从而减少了镜头的污染,提高了测量精度,对疫情防控工作造成了积极的影响。
搜索关键词: 一种 自动 调整 测量 角度 防尘 半导体 测温 装置
【主权项】:
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