[发明专利]一种利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法有效
| 申请号： | 202011077799.6 | 申请日： | 2020-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN112461910B | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 王伟民;张昊;闫芝成 | 申请（专利权）人： | 山东大学 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 张晓鹏 |
| 地址： | 250061 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及非晶条带钝化膜转变电位的技术领域，尤其涉及一种利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法，包括如下步骤：将非晶条带置于三电极工作站中，测试TAFEL曲线，得到钝化平台，从钝化平台上选取电位值点；针对选取的电位值点，按照恒电流法测试，得到非晶条带的转变电位。本发明扩大了铁基合金以及非晶材料的应用领域，可以将非晶运用到更多的实际生产中，发挥非晶合金更大的作用，使其具有更大的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 电流 测试 条带 钝化 转变 电位 方法 | ||
【主权项】：
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