[发明专利]积分型像素阵列探测器的刻度方法、装置、介质及设备有效
| 申请号： | 202011055874.9 | 申请日： | 2020-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN112188127B | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 周杨帆;谢亮;李秋菊;刘鹏;李贞杰;丁叶 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所;湘潭芯力特电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/369 | 分类号： | H04N5/369;H04N5/361;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 孙宝海;袁礼君 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本公开实施例提供了一种积分型像素阵列探测器的刻度方法、装置、介质及设备，包括：当积分电路仅接入第一积分电容时，获取在无光照下像素的第一输出失调电压，以及在光照条件下像素的第一光强响应曲线，从而获得第一光强响应曲线的斜率；当积分电路接入所述第一积分电容和第二积分电容时，获取在无光照下像素的第二输出失调电压，以及在光照条件下像素的第二光强响应曲线，从而获得第二光强响应曲线的斜率；根据所述第一输出失调电压、所述第二输出失调电压、所述第一光强响应曲线的斜率、所述第二光强响应曲线的斜率确定传感器暗电流在积分电容上累积的电荷量Q |
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| 搜索关键词： | 积分 像素 阵列 探测器 刻度 方法 装置 介质 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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