[发明专利]轴向屈曲金属密封深空采样封装装置及漏率监测封装系统有效

专利信息
申请号: 202011031391.5 申请日: 2020-09-27
公开(公告)号: CN112255004B 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: 赵海峰;贾晨雪;袁子豪;穆瑞楠;王珂;盛强 申请(专利权)人: 中国科学院空间应用工程与技术中心
主分类号: G01N1/04 分类号: G01N1/04;G01M3/00;G01D21/02
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 吴佳
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及轴向屈曲金属密封深空采样封装装置及漏率监测封装系统,轴向屈曲金属密封深空采样封装装置包括端盖、内筒和外筒,所述内筒套设在所述外筒内,所述内筒底部与外筒底部之间弹性连接,所述端盖可拆卸连接在所述外筒上端,所述内筒上端连接有一圈金属屈曲结构,所述端盖挤压所述金属屈曲结构使其发生轴向弹性形变后分别抵接在所述外筒上端端面和端盖内端面上。本发明利用能够发生轴向弹性形变的金属屈曲结构,使金属屈曲结构变形后抵接外筒上端面和端盖内端面上,实现密封功能。
搜索关键词: 轴向 屈曲 金属 密封 采样 封装 装置 监测 系统
【主权项】:
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