[发明专利]一种回转锥角放大伺服轴线测量方法及系统有效
| 申请号： | 202011006851.9 | 申请日： | 2020-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN112197698B | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 白静;卢治兵;邓准;穆瑞峰;谢超 | 申请（专利权）人： | 北京遥感设备研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/26 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 张国虹 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种回转锥角放大伺服轴线测量方法及系统，所述方法包括：将靶标盘成一定磁性吸附于伺服内、外环轴承端面；转动伺服内、外环，通过双目视觉系统采集绕所述轴承旋转的标记点的多个空间位置；根据所述多个空间位置输入计算机拟合回转轴线；基于所述回转轴线测量固定在轴上的某一平面在旋转过程中多个时刻的法向量，以拟合出锥面回转中心线向量。本发明的优点是：实现简单，包括靶标盘，用于一定磁性吸附于伺服内、外环轴承端面；双目视觉系统，用于转动伺服内、外环时，采集绕所述轴承旋转的标记点的多个空间位置；处理模块，用于拟合出锥面回转中心线向量，实现了虚拟回转轴非接触测量，解决了伺服虚拟回转轴无法直接测量难题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 回转 放大 伺服 轴线 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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