[发明专利]一种用于HIRF试验的高电平试验系统及试验和验证方法在审
| 申请号： | 202011002095.2 | 申请日： | 2020-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN112114218A | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | 石国昌;陈亚南;胡雅涵 | 申请（专利权）人： | 上海无线电设备研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 张妍;周乃鑫 |
| 地址： | 200233 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于HIRF试验的高电平试验系统及试验和验证方法，高电平试验系统包含多个布置在测试区域内的发射天线，连接发射天线的射频源，设置在测试区域内的采集装置，连接采集装置的信号接收单元，以及系统状态监测装置。利用高电平试验系统进行高电平扫频测试，获得高电平扫频测试的异常频点，利用低电平等效试验系统在与高电平扫频测试同样的频点进行低电平扫频测试，获得低电平扫频测试的异常频点，对比高电平扫频测试的异常频点和低电平扫频测试的异常频点，验证高电平试验结果。本发明实现了高电平的地面模拟试验，并完成了高低电平整机HIRF试验的相互验证，为飞机高强辐射场效应的防护设计和安全性评估提供了有效试验手段。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 hirf 试验 电平 系统 验证 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海无线电设备研究所，未经上海无线电设备研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011002095.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
