[发明专利]一种用于HIRF试验的高电平试验系统及试验和验证方法

权利要求书

1.一种用于HIRF试验的高电平试验系统，其特征在于，包含：多个布置在测试区域内的发射天线，连接发射天线的射频源，设置在测试区域内的采集装置，连接采集装置的信号接收单元，以及系统状态监测装置。

2.如权利要求1所述的用于HIRF试验的高电平试验系统，其特征在于，所述的射频源包含：信号源，以及连接信号源和发射天线的功率放大器。

3.如权利要求2所述的用于HIRF试验的高电平试验系统，其特征在于，所述的测试区域位于非封闭机库时，所述的高电平试验系统还包含多个搅拌器，所述的搅拌器设置为可调连续旋转模式，所述的非封闭机库的内壁采用金属结构，所述测试区域内形成统计均匀场，场均匀性满足3dB要求。

4.如权利要求2所述的用于HIRF试验的高电平试验系统，其特征在于，所述的测试区域位于外部开阔场时，所述的高电平试验系统还包含连接功率放大器和发射天线的程控开关，用于切换高频天线和低频天线，通过多点布设天线的方式在测试区域内形成均匀场，场均匀性满足3dB要求。

5.如权利要求3或4所述的用于HIRF试验的高电平试验系统，其特征在于，所述的采集装置采用场强探头或接收天线；所述的信号接收单元通过光纤传输系统连接所述的采集装置，所述的光纤传输系统包含多通道光电转换器和光纤。

6.如权利要求5所述的用于HIRF试验的高电平试验系统，其特征在于，所述的信号接收单元包含场强计或频谱仪，以及控制计算机。

7.一种基于如权利要求1-6中任意一项所述的用于HIRF试验的高电平试验系统来实现的飞机级HIRF效应高电平试验及等效验证方法，其特征在于，利用所述的高电平试验系统进行高电平扫频测试，获得高电平扫频测试的异常频点；利用低电平等效试验系统在与高电平扫频测试同样的频点进行低电平扫频测试，将低电平扫频测试结果外推处理，并与测试对象的敏感阈值进行对比，其中，超出敏感阈值的外推结果所对应的频点即为低电平扫频测试的异常频点；对比高电平扫频测试的异常频点和低电平扫频测试的异常频点，验证高电平试验结果。

8.如权利要求7所述的飞机级HIRF效应高电平试验及等效验证方法，其特征在于，在进行高电平扫频测试之前，预先进行高电平校准测试，高电平校准测试分为非封闭机库内的校准测试方法和开阔场条件下的校准测试方法。

9.如权利要求8所述的飞机级HIRF效应高电平试验及等效验证方法，其特征在于，所述的高电平扫频测试的方法包含：

在100MHz～18GHz范围内进行高电平扫频测试，从设定的初始输入功率开始，按照固定的步进值，逐步增加发射天线的输入功率，直至发射天线的输入功率达到校准输入功率或者待测飞机出现异常，在此过程中，记录出现异常时对应的异常频点。

10.如权利要求9所述的飞机级HIRF效应高电平试验及等效验证方法，其特征在于，所述的出现异常时的异常限值确认方法包含：

将出现异常时的输入功率降低3dB，并以1dB作为步进逐渐增加功率，直至出现异常，同时，再次降低1dB时异常消失，则出现异常时的输入功率即为异常限值。