[发明专利]量子点发光二极管测试装置及其校准方法在审

专利信息
申请号: 202010977322.7 申请日: 2020-09-16
公开(公告)号: CN114264925A 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 柳春美;洪佳婷;芦子哲;贺晓光;严围 申请(专利权)人: 武汉国创科光电装备有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R35/00
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 陈卓宏
地址: 430000 湖北省武汉市经济*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及电子器件测试设备技术领域,提供一种量子点发光二极管测试装置及其校准方法,上述量子点发光二极管测试装置包括用于放置量子点发光二极管的座体,盖设于座体上的盖体,设置于盖体上的多个调节件,以及设于盖体与座体之间并且用于安装探测器件的安装板,安装板与各调节件相连接,各调节件分别用于驱动安装板朝靠近或远离量子点发光二极管的方向移动,上述量子点发光二极管测试装置中的安装板可进行平行度调节,从而有效消除因制造精度低而引起不同的量子点发光二极管测试装置中的探测器件与量子点发光二极管的相对位置的差异,保证不同的量子点发光二极管测试装置的一致性,以确保量子点发光二极管性能测试的准确性。
搜索关键词: 量子 发光二极管 测试 装置 及其 校准 方法
【主权项】:
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