[发明专利]适用于固液混合光卤石矿层厚度测量的装置在审

专利信息
申请号: 202010976710.3 申请日: 2020-09-16
公开(公告)号: CN111981947A 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 喻俊志;刘金存;薛志斌;张小磊;李忠奎 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开是有关于一种适用于固液混合光卤石矿层厚度测量的装置,包括:一采样管、若干延长管、一传送结构和一支架。所述采样管的末端连接于所述延长管,所述采样管的前端为采样头,用于对光卤石矿层进行采样和测量。所述延长管和所述采样管连接,依次穿过所述传送结构,并在所述传送结构的驱动下,所述延长管和所述采样管沿直线运动,使所述采样管的采样头贯穿光卤石矿层,实现对光卤石矿层的采样和测量。所述传送结构固定于所述支架上,所述支架固定于工作船上。本公开提供的适用于固液混合光卤石矿层厚度测量的装置,采用了由多个隔板排列组成倒齿结构的采样头,能够在采样管螺旋下沉过程中将光卤石截留在隔板内,进而提高了测量精度。
搜索关键词: 适用于 混合 光卤石 矿层 厚度 测量 装置
【主权项】:
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