[发明专利]紫外发光二极管性能退化预测模型构建及寿命预测方法在审
| 申请号： | 202010965810.6 | 申请日： | 2020-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN112084717A | 公开（公告）日： | 2020-12-15 |
| 发明（设计）人： | 樊嘉杰;经周;刘杰;刘盼;张国旗 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G06F30/27 | 分类号： | G06F30/27;G06Q10/04;G06N3/04;G06N3/08;G06F119/04 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 陆惠中;王永伟 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了紫外发光二极管性能退化预测模型构建及寿命预测方法，属于紫外发光二极管寿命预测领域，模型构建方法包括：获取紫外发光二极管老化试验中多个时间点测试指标构成的原始时间序列测试数据；根据原始时间序列测试数据训练基于循环神经网络改进的长短期记忆网络，得到紫外发光二极管性能退化预测模型；长短期记忆网络的输入为原始时间序列测试数据中多个连续时间点测试指标，输出为相邻的后一时间点测试指标。寿命预测方法为：根据原始时间序列测试数据和上述预测模型，获得后续时间的指标退化数据；再根据预设的失效阈值确定紫外发光二极管预测失效寿命。本发明能对具有时间序列的衰减数据进行处理，具有高精度、高可靠、高速度的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 紫外 发光二极管 性能 退化 预测 模型 构建 寿命 方法 | ||
【主权项】：
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