[发明专利]扫描法测量主动光电系统激光收发同轴度的装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010965462.2 申请日: 2020-09-15
公开(公告)号: CN112284302B 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 吴金才;宋志化;张亮;窦永昊;贾建军;何志平;舒嵘 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种扫描法测量主动光电系统激光收发同轴度的装置及方法,该发明利用分光棱镜的分光功能,将CCD与光纤端面等距离的固定到分光镜两侧,在平行光管焦面处同时实现接收光束的成像和激光的发射,组合成一个收发同轴模块;利用角锥棱镜的自校准功能标定收发同轴模块的收发同轴点,以收发同轴点为基准,通过高精度的方位、俯仰旋转台分别标定出主动光电系统的接收及发射的光轴,通过计算便可得到同轴度偏差。该发明操作过程简单、定标方法简单,可以充分利用现有实验仪器进行测量。
搜索关键词: 扫描 测量 主动 光电 系统 激光 收发 同轴 装置 方法
【主权项】:
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