[发明专利]一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置在审
申请号: | 202010954067.4 | 申请日: | 2020-09-11 |
公开(公告)号: | CN112098754A | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 冯吉祥;张奇勋;侯佳赞;李世华;刘冬冬;王智慧;韩策;卢子琦 | 申请(专利权)人: | 北京无线电测量研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04;G01B11/00 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 吴佳 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置,属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端,电子组件老化测试座包括:基座;安装座,滑动安装在基座上,安装座上设有安装腔体;测试输出对接座,连接在基座上,测试输出对接座上设有输出对接插头;伸缩机构一,一端连接在基座上,另一端与安装座连接;测试输入对接座,正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧,测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头,且测试输入对接插头与信号源电连接;伸缩机构二,一端连接在安装座上,另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件,且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子 组件 老化 测试 含有 装置 | ||
【主权项】:
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