[发明专利]一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置在审

专利信息
申请号: 202010954067.4 申请日: 2020-09-11
公开(公告)号: CN112098754A 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 冯吉祥;张奇勋;侯佳赞;李世华;刘冬冬;王智慧;韩策;卢子琦 申请(专利权)人: 北京无线电测量研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G01B11/00
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 吴佳
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置,属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端,电子组件老化测试座包括:基座;安装座,滑动安装在基座上,安装座上设有安装腔体;测试输出对接座,连接在基座上,测试输出对接座上设有输出对接插头;伸缩机构一,一端连接在基座上,另一端与安装座连接;测试输入对接座,正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧,测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头,且测试输入对接插头与信号源电连接;伸缩机构二,一端连接在安装座上,另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件,且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。
搜索关键词: 一种 电子 组件 老化 测试 含有 装置
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电测量研究所,未经北京无线电测量研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010954067.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top