[发明专利]一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置在审
| 申请号： | 202010954067.4 | 申请日： | 2020-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN112098754A | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 冯吉祥;张奇勋;侯佳赞;李世华;刘冬冬;王智慧;韩策;卢子琦 | 申请（专利权）人： | 北京无线电测量研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 吴佳 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置，属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端，电子组件老化测试座包括：基座；安装座，滑动安装在基座上，安装座上设有安装腔体；测试输出对接座，连接在基座上，测试输出对接座上设有输出对接插头；伸缩机构一，一端连接在基座上，另一端与安装座连接；测试输入对接座，正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧，测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头，且测试输入对接插头与信号源电连接；伸缩机构二，一端连接在安装座上，另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子 组件 老化 测试 含有 装置 | ||
【主权项】：
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