[发明专利]通过SDIO接口调试外挂芯片的方法、装置、设备和介质有效
| 申请号： | 202010953705.0 | 申请日： | 2020-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN112052132B | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 黄天宝 | 申请（专利权）人： | 厦门紫光展锐科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/263;G06F11/273 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 杨东明;余中燕 |
| 地址： | 361006 福建省厦*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种通过SDIO接口调试外挂芯片的方法、装置、设备和介质，所述外挂芯片中预先配置有可供SDIO接口访问的信号映射寄存器，所述信号映射寄存器配置为映射所述外挂芯片集成的调试访问接口对应的信号，所述方法包括：初始化SDIO接口；通过所述SDIO接口对所述外挂芯片进行配置，以使能所述信号映射寄存器与所述调试访问接口之间建立数据流向关系；按照所述调试访问接口对应的数据协议，通过所述SDIO接口向所述信号映射寄存器发送调试指令。本发明可以通过SDIO接口实现外挂芯片调试，从而无需额外引出调试接口，也无需依赖专用的调试工具。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 sdio 接口 调试 外挂 芯片 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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