[发明专利]一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统及方法有效
| 申请号： | 202010940965.4 | 申请日： | 2020-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN111829954B | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 洪泽钦;白玉磊;董博;何昭水;谢胜利 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/41;G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 胡素莉 |
| 地址： | 510060 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高全场扫频光学相干层析测量量程的系统，包括：激光扫频光源，用于发出入射光；凸透镜，用于将所述入射光调整成平行光；分光棱镜，用于将所述入射光分成若干光束；载玻片，所述载玻片用作被测件；削光片，所述削光片用于减弱所述载玻片的反射光；光楔，所述光楔作为参考面；信号采集器，用于采集干涉光谱。通过降低采样图像的帧数实现欠采样，并且本发明应用是在SS‑OCT系统上，基于希尔伯特变换的相位求解算法，能够有效解决欠采样下导致的相位混乱问题，完成准确测量，进而提高扫频光学相干层析测量系统的最大测量量程。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 全场 光学 相干 层析 测量 量程 系统 方法 | ||
【主权项】：
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