[发明专利]横向双扩散晶体管的制造方法有效

专利信息
申请号: 202010864193.0 申请日: 2020-08-25
公开(公告)号: CN111987165B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 韩广涛 申请(专利权)人: 杰华特微电子股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L29/06
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;冯丽欣
地址: 310030 浙江省杭州市西湖区三墩镇*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请提供了一种横向双扩散晶体管的制造方法,包括:在衬底中形成漂移区;在漂移区表面形成栅氧化层和栅极导体层;在源端区域刻蚀栅极导体层和栅氧化层,注入形成体区;以光刻胶为掩模在体区内斜向注入形成第一类型注入区;在栅极导体层和体区表面形成第一阻挡层;经由第一阻挡层在第一类型注入区之间形成第二类型注入区;以及部分刻蚀第一阻挡层,暴露出第二类型注入区和部分第一类型注入区,形成第二阻挡层,以光刻胶为掩模斜向注入形成第一类型注入区,再分步刻蚀第一阻挡层,不仅可以缩小注入区尺寸,减小器件尺寸,有效降低源漏导通电阻,还能节省原料,节约成本,整个制造过程极大地简化了工艺步骤,降低了操作难度。
搜索关键词: 横向 扩散 晶体管 制造 方法
【主权项】:
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