[发明专利]一种磁芯测试装置在审
| 申请号： | 202010850884.5 | 申请日： | 2020-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN111999566A | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 余乐知;金大利;朱爱洲;杨瑞;方玲 | 申请（专利权）人： | 安徽博微新磁科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594 | 代理人： | 张陆军;张迎新 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市经济技术开发区*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提出一种磁芯测试装置，第一盖体设有n个第一安装部和n个第二安装部，第二盖体设有n个第三安装部和n个第四安装部，第一盖体与第二盖体配合状态下，n个第一安装部和n个第三安装部分别相对，n个第二安装部和n个第四安装部分别相对；第一盖体和第二盖体配合后，第一线束和第二线束抵靠后形成螺旋线圈，磁芯容置在容置空间内，也即位于螺旋线圈内，随后可对磁芯进行测试；由于第一线束和第二线束与磁芯不接触，从而不需要进行绝缘处理，降低了操作复杂性；另外第一线束和第二线束构成多圈绕组，能够均匀包裹整个磁芯，大大减小漏磁通，测试精度更高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 装置 | ||
【主权项】：
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