[发明专利]一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备在审
| 申请号： | 202010850592.1 | 申请日： | 2020-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN112033548A | 公开（公告）日： | 2020-12-04 |
| 发明（设计）人： | 刘欢;姜照军;张卓磊 | 申请（专利权）人： | 北京泊菲莱科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01K1/14;G01K13/00;G01K15/00 |
| 代理公司： | 北京首捷专利代理有限公司 11873 | 代理人： | 梁婧宇 |
| 地址： | 100039 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备，先通过标准光窗完成对红外测温仪的透过率参数的校准，再通过增加标准测温片完成红外测温仪的发射率的校准，保持发射率、透过率、标准光窗以及标准测温片不变，维持装置内部探测点恒定温度，进行待测表面的温度测量，红外测温仪的测量温度就是待测表面的温度，此为标准式测量，更换相近的实际测温片，此时维持装置内部探点温度不变，则实际测温片表面温度应和原标准测温片红外测量温度基本接近，此为近似式测量；两种非接触式测温标定方法考虑了测量精度、测试距离、辐射过程传输介质、测量过程发射率变化，及实际测量条件等因素的影响，提高了测量精度及测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 装置 内部 表面温度 测量方法 测量 设备 | ||
【主权项】：
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