[发明专利]一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备

说明书

本发明公开了一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备，先通过标准光窗完成对红外测温仪的透过率参数的校准，再通过增加标准测温片完成红外测温仪的发射率的校准，保持发射率、透过率、标准光窗以及标准测温片不变，维持装置内部探测点恒定温度，进行待测表面的温度测量，红外测温仪的测量温度就是待测表面的温度，此为标准式测量，更换相近的实际测温片，此时维持装置内部探点温度不变，则实际测温片表面温度应和原标准测温片红外测量温度基本接近，此为近似式测量；两种非接触式测温标定方法考虑了测量精度、测试距离、辐射过程传输介质、测量过程发射率变化，及实际测量条件等因素的影响，提高了测量精度及测量效率。

技术领域

本发明涉及红外测温技术领域，更具体的说是涉及一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备。

背景技术

温度测量通常分为接触式和非接触式测量两种。较为传统的温度测量一般采用接触式测温方式，主要手段有利用介质热胀冷缩的水银温度计、压力式温度计等、利用物体电气参数随温度变化的如热电偶法、热电阻法等，及利用随温度而颜色发生变化的贴纸等，这几种测温技技术已经成熟，且已在各行各业得到应用。在某些应用场合，接触式测温受制约，非接触式测温具有明显的优势，比如如机器不停、人不接触或温度传感无法接触情况下，对生产设备或装置进行温度测量；在产品不被损坏或污染情况下，对高温产品进行温度测量等。红外测温技术就是一种非接触式测温技术，由于其具有惯性小、响应速度快、测温范围宽、不改变被测物体温度场、能远距离非接触测量的优点，使其在医学、军事、工业等多个领域得到广泛应用。

红外测温技术，有两个问题需要解决，一是准确测量来自被测物体表面的辐射能量；二是辐射能量如何准确表示被测表面的真实温度；另外，还需考虑测量精度、测试距离、工作动态范围、被测目标大小、辐射过程传输介质以及测量过程发射率变化等，这些因素都影响红外测温的准确性和可靠性。

中国专利公布号为CN 109959454 A公开了“一种用于强光照射表面的红外测温装置、测温方法及应用”的发明，该发明提供了一种用于强光照射物体表面的红外测温装置、测温方法及应用，该方法可解决强光照射下，发射率已知或可以直接测量的表面温度测量，但不能解决发射率未知或不易直接测量情况下的表面测温。

中国专利公布号为CN 108469307 A公开了“一种钢包表面测温装置与测温方法”的发明，该发明提供了一种钢包表面的接触式测温方法，该方法采用传统热电阻方法测量，将测温表面贴上多个热电阻，采集信号处理并实时监测，该发明仅适用于表面容易敷设热电阻的金属表面，对于无法敷设温度传感器的不规则表面或非金属表面，则不能测量。

因此，如何使用红外测温仪可靠地测量装置内部表面的温度，提供一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备，是本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决现有技术中的上述技术问题之一，提供了一种装置内部表面温度的测量方法及测量设备。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种装置内部表面温度的测量方法，包括如下步骤：

S01:红外测温仪的透过率及发射率校准

S011:调整红外测温仪的高度h和倾斜角度W，确保红外测温仪指示光斑能够完整覆盖所述恒温加热平台上的测温表面；

S012:恒温加热平台开启加热，预设加热温度为T0，待恒温加热平台显示测量温度达到预设温度T0并稳定后，调整红外测温仪的发射率E0，使红外测温仪的测试温度等于恒温加热平台的显示温度，记录此时红外测温仪的测试温度T1；