[发明专利]星载磁强计校准装置及方法在审

专利信息
申请号: 202010832892.7 申请日: 2020-08-18
公开(公告)号: CN111948591A 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 吴卫权;陈丽;孙晓春;王浩;王韬;郑祥敏 申请(专利权)人: 上海卫星装备研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01C25/00
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种星载磁强计校准装置及方法,地面磁强计装置的三分量磁传感器先置于标准磁场源发生装置形成的磁场环境内,后端数据处理装置采集得到第一磁场数据,星载磁强计装置的星载磁强计后置于标准磁场源发生装置形成的磁场环境内,后端数据处理装置采集得到第二磁场数据,令第一磁场数据和第二磁场数据进行比对,得到星载磁强计装置的不同量程精度、分辨率值和稳定性值。本发明规定了校准设备组成、校准条件、校准技术要求、校准项目,可对星载磁强计的量程、分辨率、稳定性进行校准,并给出校准结果不确定度。
搜索关键词: 磁强计 校准 装置 方法
【主权项】:
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