[发明专利]电子芯片检测装置在审
申请号: | 202010828827.7 | 申请日: | 2020-08-18 |
公开(公告)号: | CN111948518A | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 张克引 | 申请(专利权)人: | 张克引 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市吴中*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及芯片检测技术领域,更具体地说,涉及一种电子芯片检测装置,包括芯片存储机构、旋转托盘机构、第一驱动机构、检测容置机构、芯片检测机构、芯片推出机构、第二驱动机构、六棱座板、立柱和基座,所述立柱的上下两端分别与所述六棱座板的中心和所述基座的中心固定连接;所述旋转托盘机构转动配合连接在所述立柱的中间;所述第二驱动机构固定连接在所述基座上;所述第二驱动机构传动连接所述旋转托盘机构;所述旋转托盘机构上均匀环绕设置六个检测容置机构;本发明可以实现对电子芯片的置放、电子芯片的检测与检测后电子芯片的顶出工作,本发明对于电子芯片的检测精度更为准确,检测效率更高。 | ||
搜索关键词: | 电子 芯片 检测 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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