[发明专利]用于仿真集成电路的方法和设备以及计算机可读介质在审
| 申请号： | 202010821020.0 | 申请日： | 2020-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN112149379A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 全芯智造技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F30/392;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 张宁 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本文描述了用于仿真集成电路的方法和设备以及计算机可读介质。在此描述的用于仿真集成电路的方法包括：获取指示集成电路的版图数据；基于版图数据生成集成电路的图形化版图；对集成电路的图形化版图进行划分以确定待仿真区域；以及通过使用与待仿真区域中的版图图案对应的模型对所述待仿真区域进行处理，以生成针对待仿真区域的仿真显微图像。通过使用根据本公开的实施例，可以获得集成电路中待仿真区域的仿真显微图像，以便于设计人员查看半导体器件结构的状况并且据此判断设计是否正确。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 仿真 集成电路 方法 设备 以及 计算机 可读 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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