[发明专利]基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法在审
| 申请号： | 202010795364.9 | 申请日： | 2020-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN111917485A | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 付松年;何欢;黄秋元;马超 | 申请（专利权）人： | 武汉普赛斯电子技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/54 | 分类号： | H04B10/54;H04B10/524 |
| 代理公司： | 湖北天领艾匹律师事务所 42252 | 代理人： | 杨建军 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道3*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法，所述装置包括待测信号输入端、本振脉冲光源，待测信号输入端、本振脉冲光源均连接到3×3光耦合器，3×3光耦合器的输出分为三路，其中第一路输出经光电探测器一、模数转换器一连接到数字信号处理单元，第二路输出经光电探测器二、模数转换器二连接到数字信号处理单元，第三路输出经光电探测器三、模数转换器三连接到数字信号处理单元。本申请的基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法，具有高灵敏度、高保真度、高分辨率；简化了线性光采样的光学前端，降低了硬件开销；光电探测器不平衡度易补偿，简单可靠；可测量任意强度调制光信号，对本振脉冲光源的要求低。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 线性 采样 强度 调制 信号 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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