[发明专利]一种采动影响下根系形态观测装置及方法在审
| 申请号： | 202010778819.6 | 申请日： | 2020-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN114062402A | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 郭俊廷;李全生;张凯;杨明浩;郭洋楠 | 申请（专利权）人： | 神华神东煤炭集团有限责任公司;北京低碳清洁能源研究院;国家能源投资集团有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 吴大建;何娇 |
| 地址： | 017209 内蒙古自治区鄂尔多斯*** | 国省代码： | 内蒙古;15 |
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| 摘要： | 本发明提供一种采动影响下根系形态观测装置及方法，装置包括：玻璃罩，其上设置有多个孔洞；控制台，所述玻璃罩罩设在所述控制台上；多个升降台，其均位于所述玻璃罩内且紧密排列在所述控制台上；所述升降台上为待观测的土壤及植被；微根管，设置在所述孔洞上；以及X射线层析成像系统，其位于所述控制台附近。本发明可以模拟和观测开采影响下植物根系的生长变化情况和植被受采动影响后的自修复情况。本发明在模拟地表采动变化时较为灵活，可根据需要模拟出不同开采影响程度下植被根系的影响特征和植被的自修复状况，可实现根系的原位、无损、定量观测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 影响 根系 形态 观测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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