[发明专利]利用双向激光测距进行星载激光测高仪在轨标校的方法有效
| 申请号： | 202010778614.8 | 申请日： | 2020-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN112014828B | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 国爱燕;戴君;赵晨光;徐驰;张新伟;贺涛;黄缙 | 申请（专利权）人： | 北京空间飞行器总体设计部 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 高志瑞 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用双向激光测距进行星载激光测高仪在轨标校的方法，通过星载激光测高仪和地面激光测距站的同时双向测距，减小大气以及地面测试设备误差对测距值的影响，实现星载激光测高仪测距值的在轨标校和相对测距精度测试。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 双向 激光 测距 进行 测高仪 轨标校 方法 | ||
【主权项】：
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