[发明专利]一种综合孔径辐射计系统相位残差标定方法在审
| 申请号： | 202010752718.1 | 申请日： | 2020-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN111929651A | 公开（公告）日： | 2020-11-13 |
| 发明（设计）人： | 杨小娇;李一楠;李鹏飞;吴袁超;沈尚宇;宋广南;陈文新 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 胡健男 |
| 地址： | 710100 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明一种综合孔径辐射计系统相位残差标定方法，根据每个单元天线以及辐射源发射天线的相位方向图、定标网络的S参数和接收通道的S参数、天线阵列中每个单元天线几何中心位置与辐射源发射天线几何中心位置的距离与位置关系以及第一相关矩阵、第二相关矩阵和第三相关矩阵，得到每个接收链路的相位残差，通过系统外部辐射源发射天线在综合孔径辐射计系统观测视场中发射射频信号，系统接收信号，结合测量的天线方向图信息及定标网络周期性的定标结果，计算出系统相位残差，提升了综合孔径辐射计系统的相位标定精度，为高精度的亮温获取提供了方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 综合 孔径 辐射计 系统 相位 标定 方法 | ||
【主权项】：
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