[发明专利]PCIe分线器热插拔测试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202010748557.9 | 申请日： | 2020-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN111966545A | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 亓浩;肖占慧 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 张腾;李红萧 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种PCIe分线器热插拔测试方法、装置、设备及存储介质。所述方法包括：获取分线器及其上挂载的NVMe SSD的原始配置信息，原始配置信息包括原始PCI拓扑和原始资源分配；通过存储主机循环写分线器中PCIe寄存器的方式模拟分线器的热拔出，并获取每次热拔出后分线器及其上挂载的NVMe SSD的第一配置信息；通过存储主机循环写分线器中PCIe寄存器的方式模拟分线器的热插入，并获取每次热插入后分线器及其上挂载的NVMe SSD的第二配置信息；将每一第一配置信息、每一第二配置信息分别与原始配置信息进行对比分析以生成分线器的热插拔测试结果。本发明的方案避免了人工热插拔，大大提升了测试的效率，为产品热插拔可靠性提供保障。 | ||
| 搜索关键词： | pcie 分线器热插拔 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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