[发明专利]PCIe分线器热插拔测试方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明涉及一种PCIe分线器热插拔测试方法、装置、设备及存储介质。所述方法包括：获取分线器及其上挂载的NVMe SSD的原始配置信息，原始配置信息包括原始PCI拓扑和原始资源分配；通过存储主机循环写分线器中PCIe寄存器的方式模拟分线器的热拔出，并获取每次热拔出后分线器及其上挂载的NVMe SSD的第一配置信息；通过存储主机循环写分线器中PCIe寄存器的方式模拟分线器的热插入，并获取每次热插入后分线器及其上挂载的NVMe SSD的第二配置信息；将每一第一配置信息、每一第二配置信息分别与原始配置信息进行对比分析以生成分线器的热插拔测试结果。本发明的方案避免了人工热插拔，大大提升了测试的效率，为产品热插拔可靠性提供保障。

技术领域

本发明涉及云计算技术领域，尤其涉及一种PCIe分线器热插拔测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着云计算时代的到来，越来越多的应用场景存在海量数据存储和读取情形；利用分线器(Switch)挂载更多的非易失性存储器协议固态驱动器(Non-Volatile Memoryexpress Solid State Disk，简称NVMe SSD)可有效的提升输入/输出性能，因此Switch迅速成为存储的关键组件。但Switch及其挂载的NVMe SSD直接连接到通用的高速串行计算机扩展总线上(Peripheral Component Interconnect express，简称PCIe)，NVMe SSD的控制器在驱动器内部，会随着Switch及其挂载的NVMe SSD的移除而删除，Switch热插拔处理完全依赖于操作系统的PCIe热插拔处理机制。该机制主要问题出现在资源的分配和释放期间，如何快速定位分线器Switch及其挂载的NVMe SSD热插拔PCIe资源分配是分线器Switch及其挂载的NVMe SSD热插入是否成功的关键。

目前，现有技术中Switch及其挂载的NVMe SSD热插拔资源分配依赖人工手动测试，(即通过人工插入Switch或拔出Switch)；此种方式存在效率低、测试次数少、有效测试结果少的问题，并且无法大规模快速得到有效的Switch及其挂载的NVMe SSD热插拔测试数据和分析，因此难以产品的热插拔可靠性提供保障。

发明内容

有鉴于此，有必要针对以上技术问题提供一种无需依赖人工、且高效的PCIe分线器热插拔测试方法、装置、设备及存储介质。

根据本发明的一方面，提供了一种PCIe分线器热插拔测试方法，所述方法包括：

获取分线器及其上挂载的NVMe SSD的原始配置信息，所述原始配置信息包括原始PCI拓扑和原始资源分配；

通过存储主机循环写分线器中PCIe寄存器的方式模拟分线器的热拔出，并获取每次热拔出后分线器及其上挂载的NVMe SSD的第一配置信息；

通过存储主机循环写分线器中PCIe寄存器的方式模拟分线器的热插入，并获取每次热插入后分线器及其上挂载的NVMe SSD的第二配置信息；

将每一第一配置信息、每一第二配置信息分别与所述原始配置信息进行对比分析，以生成分线器的热插拔测试结果。

在其中一个实施例中，所述获取分线器及其上挂载的NVMe SSD的原始配置信息，所述配置信息包括原始PCI拓扑和原始资源分配的步骤包括：

通过lspci命令查看分线器及其上挂载的NVMe SSD的PCI拓扑并记录以生成所述原始PCI拓扑；

获取iomen文件，并根据所述iomen文件确定分线器及其上挂载的NVMe SSD的原始资源分配。

在其中一个实施例中，通过存储主机循环写分线器中PCIe寄存器的方式模拟分线器的热拔出，并获取每次热拔出后分线器及其上挂载的NVMe SSD的第一配置信息的步骤包括：