[发明专利]一种辐射成像探测方法和装置在审
申请号: | 202010735827.2 | 申请日: | 2020-07-28 |
公开(公告)号: | CN111896991A | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | 邓智;张丽;邢宇翔;高河伟 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01T1/16 | 分类号: | G01T1/16;G01T1/24 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 杜志敏;宋志强 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请提供了一种辐射成像探测方法和装置,通过在探测器的一端集成两条通道,或分别在探测器的两端同时分别采集一定时间内射线或粒子的积分和和计数值,用于进行图像分析和重建,既能实现高强度、大动态范围的测量,又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息,以实现更好的图像和物质成分分辨,以及降低辐射成像所需剂量。可见本方案能够在降低辐射成像所需的剂量的前提下,提高图像的分辨率。 | ||
搜索关键词: | 一种 辐射 成像 探测 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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