[发明专利]一种薄壁轴承套圈的外径测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010734497.5 申请日: 2020-07-27
公开(公告)号: CN111692950B 公开(公告)日: 2022-06-17
发明(设计)人: 刘晓初;范立维;吴子轩;黄建枫;梁忠伟;萧金瑞 申请(专利权)人: 广州大学
主分类号: G01B5/08 分类号: G01B5/08
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 罗伟富
地址: 510006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种薄壁轴承套圈的外径测量装置及方法,该装置包括支撑架、设置在支撑架上的工作台、设置工作台上的定位机构、测量机构以及反抵机构;所述工作台上设有测量中心,所述定位机构包括设置在工作台上的Y轴定位机构以及X轴定位机构;所述测量机构包括滑动设置在工作台上的扭簧比较仪以及用于调节扭簧比较仪在工作台上沿着Y轴方向进行移动的测量调节机构;所述反抵机构包括设置在Y轴定位杆与扭簧比较仪的测量头之间的反抵杆以及用于调节反抵杆沿着Y轴导向槽进行移动的反抵调节机构。该装置使用扭簧比较仪对轴承套圈进行测量时,能够减小薄壁轴承套圈在测量中存在的测力误差和偏心误差,从而提高薄壁轴承套圈的外径测量精度。
搜索关键词: 一种 薄壁 轴承 外径 测量 装置 方法
【主权项】:
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