[发明专利]测试系统以及测试方法在审
| 申请号： | 202010729773.9 | 申请日： | 2020-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN111736062A | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 梅家平;王鹏 | 申请（专利权）人： | 上海兆芯集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 徐协成 |
| 地址： | 201203 上海市张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试系统以及测试方法。该测试系统包括第一输入模块、第二输入模块、第三输入模块以及测试芯片。测试芯片中的第一测试电路，接收第一输入模块提供的测试数据以产生第一输出数据。测试芯片中的第一比较模块依据第三输入模块提供的掩码数据，判断第一输出数据与第二输入模块提供的比较数据是否相同以产生第一比较结果。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
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