[发明专利]一种用于水平加载对地基影响试验的系统及方法在审
| 申请号： | 202010706539.4 | 申请日： | 2020-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN111948234A | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 王长丹;散骞骞;周顺华;王炳龙;王月明;周伟 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046;G01N3/06;G01N3/12;E02D33/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 杨宏泰 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于水平加载对地基影响试验的系统，包括封闭箱体、图像处理子系统以及分别设置于封闭箱体内的图像采集子系统和模型试验子系统，所述的图像采集子系统包括CT扫描组件和安全控制组件，所述的模型试验子系统包括加载组件和模型组件，所述的CT扫描组件包括分别设置于模型试验子系统两侧的探测器和X射线发射器，所述的模型组件包括模型箱、填设于模型箱内的土体以及插设于土体内的地基试验模型，所述的加载组件正对土体侧面，用于提供对土体的水平荷载，所述的探测器与图像处理子系统连接，与现有技术相比，本发明具有试验安全可靠且效率高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 水平 加载 地基 影响 试验 系统 方法 | ||
【主权项】：
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