[发明专利]一种集成电路测试用的样品随机抽取装置在审
| 申请号： | 202010701828.5 | 申请日： | 2020-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN111812488A | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 刘晟 | 申请（专利权）人： | 龙岩市云惠企科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;F16H7/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 364000 福建省龙岩市新*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试用的样品随机抽取装置，包括精确调节机构和转动调节机构，本发明通过在第四气缸底部设置了调节机构，转动手轮，使第一螺杆通过移动板带动第三滑块和顶撑板往上端移动，从而使顶撑板带动第二支撑板的高度进行改变，指针能够在指示板进行指示，对调节的高度进行准确了解，达到了能够精确的调节夹头的高度的优点；通过在精确调节机构底部设置了转动调节机构，第五气缸通过推块带动齿条进行移动，齿条通过齿轮带动第一皮带轮进行转动，从而使第一皮带轮通过皮带带动第二皮带轮进行转动，使第二皮带轮通过转动块带动夹具的位置进行改变，达到了能够快速调节夹头的夹取位置的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 样品 随机 抽取 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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