[发明专利]一种集成电路测试用的样品随机抽取装置

权利要求书

1.一种集成电路测试用的样品随机抽取装置，包括底板(1)、第一导轨(2)、第二滑块(10)、第四气缸(11)和夹具(14)，所述底板(1)与第一导轨(2)顶部螺栓连接，所述底板(1)通过螺钉与第一气缸(3)底部锁紧固定，所述第一气缸(3)输出端与滑座(4)固定连接，并且滑座(4)沿着第一导轨(2)顶部滑动，所述滑座(4)通过电焊与支撑架(5)底部相固定，所述支撑架(5)与第二气缸(6)左端固定连接，所述支撑架(5)内侧上端固定有第二导轨(7)；

其特征在于：还包括精确调节机构(12)和转动调节机构(13)，所述精确调节机构(12)与第四气缸(11)底部固定连接，所述精确调节机构(12)与转动调节机构(13)底部后端相固定，所述转动调节机构(13)与夹具(14)顶部转动配合，所述精确调节机构(12)包括调节机构(121)和紧固机构(122)，所述调节机构(121)与第四气缸(11)底部固定连接，所述调节机构(121)上端安装固定有紧固机构(122)。

2.根据权利要求1所述一种集成电路测试用的样品随机抽取装置，其特征在于：所述第二导轨(7)与第一滑块(8)内侧壁滑动配合，并且第一滑块(8)与第二气缸(6)输出端固定连接，所述第一滑块(8)内侧嵌入安装有第三气缸(9)，所述第二滑块(10)与第二导轨(7)前端滑动配合，所述第二滑块(10)通过螺钉与第四气缸(11)后端锁紧固定，所述底板(1)前端设置有控制面板(15)。

3.根据权利要求1所述一种集成电路测试用的样品随机抽取装置，其特征在于：所述调节机构(121)包括第一支撑板(1211)、伸缩杆(1212)、第二支撑板(1213)、指示板(1214)、指示架(1215)、螺纹座(1216)、手轮(1217)、第一螺杆(1218)、移动板(1219)、第三导轨(12110)、第三滑块(12111)、第四导轨(12112)和顶撑板(12113)，所述第一支撑板(1211)通过螺钉与第四气缸(11)底部固定连接，所述第一支撑板(1211)顶部四角相对固定有伸缩杆(1212)，所述伸缩杆(1212)远离第一支撑板(1211)一端与第二支撑板(1213)底部相固定，所述指示板(1214)通过螺钉与第一支撑板(1211)顶部右后端锁紧固定，所述指示架(1215)与第二支撑板(1213)顶部右后端螺栓连接，所述螺纹座(1216)底部与第一支撑板(1211)相固定，所述第一螺杆(1218)与螺纹座(1216)内侧壁螺纹配合，所述手轮(1217)与第一螺杆(1218)前端转动连接，所述第一螺杆(1218)与移动板(1219)前端固定连接，并且移动板(1219)与第四导轨(12112)顶部滑动配合，所述移动板(1219)右端固定有第三导轨(12110)，所述第三导轨(12110)与第三滑块(12111)内侧壁滑动配合，所述第三滑块(12111)通过螺钉与顶撑板(12113)左端锁紧固定，并且顶撑板(12113)顶部与第二支撑板(1213)底部固定连接。

4.根据权利要求1所述一种集成电路测试用的样品随机抽取装置，其特征在于：所述紧固机构(122)包括固定座(1221)、夹块(1222)、第二螺杆(1223)和转柄(1224)，所述固定座(1221)与螺纹座(1216)前端焊接固定，所述固定座(1221)顶部左右两侧相对设置有夹块(1222)，所述夹块(1222)内侧贯穿有第一螺杆(1218)，所述第二螺杆(1223)与夹块(1222)内侧螺纹配合，所述转柄(1224)随着第二螺杆(1223)左端同步转动。