[发明专利]存储器的测试的方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 202010701037.2 | 申请日： | 2020-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN111833959B | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 郭子瑜 | 申请（专利权）人： | 北京百度网讯科技有限公司;昆仑芯（北京）科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 赵林琳;张翠玲 |
| 地址： | 100094 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了用于芯片的存储器的测试的方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，涉及芯片领域。具体实现方案为，所述芯片包括多个运算模块，所述运算模块包括至少一个运算单元，所述运算单元包括至少一个所述存储器，该方法包括针对所述至少一个运算模块中的第一运算模块，生成第一测试向量以及独立于至少一个运算模块中的不同于所述第一运算模块的其他运算模块，利用所生成的第一测试向量，对所述第一运算模块执行存储器的测试。本公开的实施例能够提供一种用于芯片的高效且灵活的存储器的测试方案。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 装置 电子设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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