[发明专利]一种TOPCon电池绕镀多晶硅的去除方法及应用在审
申请号: | 202010667851.7 | 申请日: | 2020-07-13 |
公开(公告)号: | CN111785808A | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 沈梦超;顾振华;张胜军;吴智涵;绪欣;许佳平;曹育红;符黎明 | 申请(专利权)人: | 常州时创能源股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种TOPCon电池绕镀多晶硅的去除方法及应用,包括:获得正面覆盖有硼发射极和BSG、背面抛光的硅衬底;在背面制作遂穿氧化层;利用LPCVD在所述硅衬底上双面沉积非晶硅层;磷扩散退火将背面的非晶硅层晶化成掺磷多晶硅层,并在掺磷多晶硅层的表面形成PSG;去除位于硅衬底正面和侧面的绕镀多晶硅层表面的PSG;去除绕镀多晶硅层;去除正面BSG及背面PSG。本发明在背面沉积非晶硅层的同时也在正面和侧面沉积一层非晶硅层,解决了现有技术中绕镀非晶硅层在正面不均匀的现象,保护正面硼发射极不被破坏;大大降低了电池的漏电流;简化了工艺流程;不需要额外增加其他设备,降低了生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 topcon 电池 多晶 去除 方法 应用 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的