[发明专利]基于瓶颈残差GAN的介观荧光分子层析成像方法及系统在审
| 申请号： | 202010640874.9 | 申请日： | 2020-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN111751343A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 杨福刚;陈洋;王玉玲;杜慧;弓雪;张艳丽 | 申请（专利权）人： | 山东工商学院 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G06T3/40;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 黄海丽 |
| 地址： | 264026 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本公开公开了基于瓶颈残差GAN的介观荧光分子层析成像方法及系统，包括：将获取的待成像的生物样片表面荧光光强数据，输入到预先训练好的瓶颈残差GAN中；瓶颈残差GAN先对输入数据依次进行降噪、稀疏和映射处理；然后，对映射处理后的数据进行重建，得到反映荧光蛋白探针浓度及分布的数据；基于反映荧光蛋白探针浓度及分布的数据，得到介观荧光分子层析成像结果。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 瓶颈 gan 荧光 分子 层析 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
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