[发明专利]一种基于微纳CT的微裂纹原位检测装置在审
| 申请号： | 202010639738.8 | 申请日： | 2020-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN111965203A | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 高祥熙;许路路;刘帅 | 申请（专利权）人： | 中国航发北京航空材料研究院 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 仉宇 |
| 地址： | 100095 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及无损检测领域，提供一种基于微纳CT的微裂纹原位检测装置。该装置通过加载后产生较大的加载力，使金属试样中的微裂纹克服闭合效应，达到张开的目的，同时结合微纳CT实现微裂纹的检测。该装置尺寸小、操作便捷，通过各部分相互配合形成加载力的内部闭环，支撑罩的镂空框架结构设计在确保有足够的结构刚度时避免了射线源和探测器之间射线的传播路径上非检测材料的影响；该装置能够单独实现试样自身的旋转，避免了检测时复杂的机械系统；检测中采用VGStudio软件重建投影图像的三维数据，并采用Avizo软件高效率处理数据获得微裂纹的三维特征。该方法综合考虑了微裂纹的检测难点和微纳CT的技术特点和优势，实现了原位微米级裂纹的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ct 裂纹 原位 检测 装置 | ||
【主权项】：
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