[发明专利]芯片测试方法、测试设备和测试系统有效
| 申请号： | 202010628049.7 | 申请日： | 2020-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN111736059B | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 陈默;郭海丰;段恋华 | 申请（专利权）人： | 深圳比特微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 刘倜 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本公开涉及芯片的测试方法、测试设备和测试系统。该测试方法包括：测量在每个核被提供电源电压但不提供数据和时钟的状态下的第一电流；测量在每个核都被提供电源电压但不提供数据，至少第一部分的核还被提供具有第一频率的时钟的状态下的第二电流；测量在每个核都被提供电源电压但不提供数据，至少第一部分的核还被提供具有第二频率的时钟的状态下的第三电流；测量在每个核都被提供电源电压，至少第一部分的核还被提供具有第二频率的时钟但不提供数据，并且第二部分的核还被提供数据和具有第二频率的时钟的状态下的第四电流；以及至少根据上述步骤的测量结果确定在多个核都被提供电源电压、数据和具有第三频率的时钟的情况下芯片的估算电流。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 设备 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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