[发明专利]一种基于足印影像的星载激光测高仪在轨指向检校方法有效
| 申请号： | 202010623563.1 | 申请日： | 2020-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN111623802B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 刘智慧;舒嵘;谢锋;黄庚华;刘向锋 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于足印影像的星载激光测高仪在轨指向检校方法，该方法包括以下步骤：从原始足印影像解算激光到达地面的实际落点的质心在原始足印影像中的位置；对原始足印影像进行几何校正，得到具有地理坐标的足印影像，确定激光在地面的实际落点质心的地理坐标与三维坐标；构建星载激光测高严密几何模型，解算激光在地面的实际落点质心的三维坐标；根据从原始足印影像中解算的和经过严密几何模型解算的激光在地面的实际落点质心的三维坐标，标定出星载激光测高仪指向角。本发明避免了地面大范围铺设探测器进行检校，节省人力物力，能够检校出星载激光的指向，具有较高的精度和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 足印 影像 激光 测高仪 指向 校方 | ||
【主权项】：
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