[发明专利]基于层次化测试向量的高效测试方法有效
| 申请号： | 202010620183.2 | 申请日： | 2020-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN111722089B | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 单悦尔;徐彦峰;范继聪;张艳飞;闫华 | 申请（专利权）人： | 无锡中微亿芯有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人： | 过顾佳;聂启新 |
| 地址： | 214000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种基于层次化测试向量的高效测试方法，涉及芯片测试技术领域，该方法将待测试的互连路径分成多个层次结构，针对各个层次结构生成测试序列，每个层次结构中对应上一个层次结构中同一个结构单元的各个测试向量作为一个测试组依次串行移位，该方法按照互连路径的层次对应生成层次化的测试序列，可以在保证全覆盖测试的基础上大大降低测试序列的数量，从而加快测试速度、提高测试效率，尤其适用于多裸片FPGA这种内含大量互连路径的结构。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 层次 测试 向量 高效 方法 | ||
【主权项】：
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