[发明专利]芯片自检测方法、装置、芯片、显示系统及存储介质在审
| 申请号： | 202010616662.7 | 申请日： | 2020-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN111782448A | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 杨盼 | 申请（专利权）人： | 长沙景嘉微电子股份有限公司;长沙景美集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京新知远方知识产权代理事务所(普通合伙) 11397 | 代理人： | 马军芳;张艳 |
| 地址： | 410221 湖南省长沙市岳*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种芯片自检测方法、装置、芯片、显示系统及存储介质，其中，芯片自检测方法包括：获取芯片的上电检测参数；加载硬件初始化程序；当所述上电检测参数满足预设参数条件、且硬件初始化程序运行正常时，对处于初始化状态的硬件进行检测，并根据预设绘图命令绘制图形；根据所述硬件的检测结果以及绘图结果产生芯片自检测结果。本申请实施例提供的芯片自检测方法、装置、芯片、显示系统及存储介质能够解决传统方案中对芯片检测的效率较低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 方法 装置 显示 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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