[发明专利]带检查系统、带检查方法和带检查程序的存储介质在审
| 申请号： | 202010595849.3 | 申请日： | 2020-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN112150375A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 西泽辉 | 申请（专利权）人： | 京瓷办公信息系统株式会社 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T7/00;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 鹿屹;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种带检查系统、带检查方法和带检查程序的存储介质。该带检查系统根据拍摄图像形成装置的中间转印带得到的第一带图像，检测作为所述中间转印带的异常部位的带缺陷，包括缺陷候补检测部，所述缺陷候补检测部进行所述第一带图像的预处理，并从进行了所述预处理的第二带图像检测所述带缺陷的候补，其中，所述预处理包括去除所述中间转印带的至少由拍摄引起的噪声的噪声去除处理，所述噪声去除处理针对由所述拍摄引起的噪声，根据所述带缺陷的标准尺寸从所述第一带图像去除预定尺寸的噪声。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 系统 方法 程序 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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