[发明专利]薄膜封装的测试方法有效
| 申请号： | 202010590396.5 | 申请日： | 2020-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN111781120B | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 段羽;王振宇 | 申请（专利权）人： | 吉林大学 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 高一明;郭婷 |
| 地址： | 130012 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： |
一种薄膜封装的测试方法，以钙传感器和封装薄膜是否连续成膜为唯一变量，设置叠层测试单元和腔体测试单元，通过光学钙测试和电学钙测试以及光电协同测试手段，对每个实验组进行水汽渗透定量分析，得到叠层测试单元测量封装薄膜的缺陷处渗水量M |
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| 搜索关键词： | 薄膜 封装 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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