[发明专利]用于确定分子结构的方法和系统在审
| 申请号： | 202010578893.3 | 申请日： | 2020-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN112129795A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | B.比伊泽;A.科特查 | 申请（专利权）人： | FEI公司 |
| 主分类号： | G01N23/2055 | 分类号： | G01N23/2055;G01N23/04;G01N23/2251 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张凌苗;申屠伟进 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于确定分子结构的方法和系统。可以基于从样品的衍射图和电子显微镜图像中求解的结构因子来确定分子结构。具体地，所述结构因子的振幅可以基于多个衍射图中的各衍射峰的强度来确定。所述结构因子的相位可以基于电子显微镜图像和所述各衍射峰的所述强度来确定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 分子结构 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司，未经FEI公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010578893.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
