[发明专利]BIOS的自动修复功能测试方法、装置、设备及介质有效

专利信息
申请号: 202010567715.0 申请日: 2020-06-19
公开(公告)号: CN111708705B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 李秀丽 申请(专利权)人: 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 刘翠香
地址: 250001 山东省济南市自由贸易试验*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 本申请公开了一种BIOS的自动修复功能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,该方法应用于BIOS芯片,包括:在接收到基板管理控制器发送的预设IPMI指令后,调用预设模拟程序以破坏BIOS固件的主模块;保存被破坏后的BIOS固件;重启系统以便进行BIOS自动修复功能测试。本申请,基于预设IPMI指令触发执行预先在BIOS芯片中设置的预设模拟程序,可高效、自动、准确地将BIOS固件的主模块破坏,不仅避免了拆装BIOS芯片,而且无需测试人员通过咨询开发人员进而手动定位破坏固件的主模块,因此可极大地提高测试效率和适用性,并且同时也提高了对主模块的数据定位的准确性。
搜索关键词: bios 自动 修复 功能 测试 方法 装置 设备 介质
【主权项】:
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