[发明专利]BIOS的自动修复功能测试方法、装置、设备及介质

说明书

本申请公开了一种BIOS的自动修复功能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该方法应用于BIOS芯片，包括：在接收到基板管理控制器发送的预设IPMI指令后，调用预设模拟程序以破坏BIOS固件的主模块；保存被破坏后的BIOS固件；重启系统以便进行BIOS自动修复功能测试。本申请，基于预设IPMI指令触发执行预先在BIOS芯片中设置的预设模拟程序，可高效、自动、准确地将BIOS固件的主模块破坏，不仅避免了拆装BIOS芯片，而且无需测试人员通过咨询开发人员进而手动定位破坏固件的主模块，因此可极大地提高测试效率和适用性，并且同时也提高了对主模块的数据定位的准确性。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别涉及一种BIOS的自动修复功能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

基本输入输出系统(Basic Input Output System，BIOS)是服务器等设备主板上的一个重要固件程序。一般地，为了确保BIOS芯片的正常工作，目前在国产服务器中，设计人员一般均为BIOS芯片开发了自动修复功能，即BIOS recovery功能。基于该功能，当BIOS芯片里的文件被破坏后，其即可进行自动修复，有效保障器件程序的运行安全。

相应地，在服务器产品测试阶段，BIOS recovery功能的测试也自然成为其中重要的一项。但是，在相关技术中，测试人员一般在咨询过专业的BIOS开发人员后，使用第三方工具破坏掉开发人员指明的BIOS的特定区域，并将被破坏后的BIOS文件用烧录器烧录到BIOS芯片里，并重新将BIOS芯片安装至服务器上电开机，从而对BIOS芯片能否在上电后利用recovery功能成功进行自我修复。

可见，上述方法比较适用于主板上的BIOS芯片方便取摘的情况，否则将十分麻烦。此外，由于BIOS文件内部区域划分是不断变化的，一般只有专业开发人员才知道，因此，该方法将耗费测试人员较多工时与开发人员进行咨询，不便于测试工作的长期开展，影响测试效率。

鉴于此，提供一种解决上述技术问题的方案，已经是本领域技术人员所亟需关注的。

发明内容

本申请的目的在于提供一种BIOS的自动修复功能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，以便有效提高测试效率和操作的便利性。

为解决上述技术问题，第一方面，本申请公开了一种BIOS的自动修复功能测试方法，应用于BIOS芯片，包括：

在接收到基板管理控制器发送的预设IPMI指令后，调用预设模拟程序以破坏BIOS固件的主模块；

保存被破坏后的所述BIOS固件；

重启系统以便进行BIOS自动修复功能测试。

可选地，所述调用预设模拟程序以破坏BIOS固件的主模块，包括：

基于所述预设模拟程序查找BIOS固件的所述主模块；

基于所述预设模拟程序删除所述主模块。

可选地，所述调用预设模拟程序以破坏BIOS固件的主模块，包括：

基于所述预设模拟程序查找BIOS固件的所述主模块；

基于所述预设模拟程序删除所述主模块中的首个字符串。

可选地，所述重启系统以便进行BIOS自动修复功能测试，包括：

重启系统以便基于预先存储的完整的BIOS固件备份进行自动修复功能测试。

第二方面，本申请还公开了一种BIOS的自动修复功能测试装置，包括：

调用单元，用于在接收到基板管理控制器发送的预设IPMI指令后，调用预设模拟程序以破坏BIOS固件的主模块；