[发明专利]一种基于折射面共线的星光大气折射测量校正方法有效

专利信息
申请号: 202010564011.8 申请日: 2020-06-19
公开(公告)号: CN111537003B 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 江洁;王振 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01C21/02
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 安丽;邓治平
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于折射面共线的星光大气折射测量校正方法,基于星敏感器观测恒星矢量与参考星表进行星图识别,得到观测星与参考星之间的匹配关系;将观测星对应的参考星矢量转换到进入大气层之前的地理坐标系,得到入射星光的天顶距和方位角;基于折射面共线原理,根据星图识别到的所有恒星的成像坐标和其进入大气层之前的方位角优化求解得到天顶方向在星敏感器的成像面上的位置坐标;根据求解得到的最优天顶方向在成像面上的位置坐标,利用三角余弦公式对识别到的所有观测恒星像面坐标进行大气折射校正,得到校正后的恒星坐标;求解得到星敏感器在地理坐标系下的姿态。
搜索关键词: 一种 基于 折射 共线 星光 大气 测量 校正 方法
【主权项】:
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