[发明专利]光子计数能谱CT成像中自适应能谱优化方法及其应用有效
| 申请号： | 202010562558.4 | 申请日： | 2020-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN111707688B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 高河伟;祁宾祥;邢宇翔;张丽;王森 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046;G01T1/36;G01T7/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种光子计数能谱CT成像中自适应能谱优化方法及其应用，该方法包括：利用不同入射能谱条件下的空气测量数据，结合光子计数能谱CT成像有效物理模型，获得各像素的能谱和阈值不一致性差异；建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系，并依据该硬化函数关系进行逐像素的能谱优化修正。本公开结合含不一致性因子的CT物理模型和系统实际测量数据，能够最大程度地修正能谱CT不一致性。本公开通过系统自身设备进行快速准确的能谱修正，而不依赖于荧光等外部设备标定，有效减少环状伪影，提高成像质量，实现对物质成分的识别，在医疗成像、安全检查等领域都具有很高的实用价值，为光子计数能谱CT成像实用化提供有力支持。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 计数 ct 成像 自适应 优化 方法 及其 应用 | ||
【主权项】：
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