[发明专利]一种测量哑光柱全息承印材料光栅常数的方法有效

专利信息
申请号: 202010545045.2 申请日: 2020-06-15
公开(公告)号: CN111721716B 公开(公告)日: 2023-03-17
发明(设计)人: 吕伟;郭鹏飞;许旭;黄敏;李莹莹;习永惠;李修 申请(专利权)人: 深圳劲嘉集团股份有限公司;北京印刷学院
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01M11/02
代理公司: 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 代理人: 耿小强
地址: 518057 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种测量哑光柱全息承印材料光栅常数的方法,属于光谱测量技术领域;选择一种光谱测量范围大于可见光光谱范围(380nm~780nm)的角分辨光谱仪,同时可设定不同入射光角、接收角以及角度间隔的测量。测量哑光柱全息承印材料上任一无脏污、无划痕处的亮光柱区域的光谱能量,根据角分辨光谱仪在不同接收角测量得到的光谱曲线能量分布及其峰值波长位置分布,判定哑光柱全息承印材料在一级衍射级次的衍射角度范围,进而结合光栅方程计算哑光柱全息承印材料的光栅常数范围。本发明的方法克服了传统的颜色测量仪器(分光光度计)无法测量和光学显微设备无法准确测量哑光柱全息承印材料光栅常数的缺陷,在光电探测器接收衍射光的角度范围增多、采集衍射光光谱能量的波段范围增加的基础上,进行哑光柱全息承印材料的光栅常数的判定。
搜索关键词: 一种 测量 光柱 全息 承印 材料 光栅 常数 方法
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